顕微鏡の校正標準サンプル総合リスト
校正標準サンプルは、顕微鏡や X 線分析システムの校正に不可欠なツールです。
校正された機器のみが正確なデータを生成します。
このリストでは、SEM、FIB-SEM、TEM、EDS/WDS、
LM、デジタル イメージング システムで利用可能な校正標準サンプルをご紹介致します。
これらの多用途で正確でありながら手頃な価格の校正標準により、お使いの顕微鏡の
最適な校正が可能になります。
SEM - FIB - FESEM – 卓上 SEM 用 (各項目のクリックで個別のカタログがでてまいります。)
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 MCS-1 & MCS-0.1 X-Y 高倍率 校正標準 （X 方向およびY 方向） |
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SEM / EDS / WDS 用
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標準サンプル |
EDX および BSE 検出器用標準サンプル |
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TEM - TEM / EDS 用
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AFM-SPM 用
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LM - Digital Imaging 用
ガラスステージ マイクロメータおよびレチクル 直線、十字、複合、 （オプション：証明書付き） |  Micro-Tec MTC-5 マルチターゲット トレーサブル 校正標準サンプル |
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備考 : 本内容は予告なしに変更されることがございます。
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